| 機器名称 | 用途 |
|---|---|
| TEM（透過電子顕微鏡） | 原子を観察する 触媒、電池、金属、半導体など、材料の測定 |
| FIB（集束イオンビーム） | マイクロ領域の3次元加工。電子顕微鏡観察用 TEM試料の迅速加工 |
| SEM（走査電子顕微鏡） | マイクロ領域の組織・膜・領域を観察する 材料の微細構造観察。有機物・壊れやすいもの観察に特徴 |
| SPM（走査プローブ顕微鏡） | ナノの凸凹の観察。電荷、磁性の可視化 電気自動車部品、燃料電池・2次電池関連 ※経済産業省 先端技術実証・評価設備整備等補助金を利用して整備 |
| 機器名称 | 用途 |
|---|---|
| XPS（X線光電子分光） | 元素の化学状態（酸化還元）の測定する 青色LED等のバンドギャップ測定 |
| TOF-SIMS（2次イオン質量分析） | 表面付着した有機物・無機物を化合物のまま可視化して調べる 元素でなく化学種ごとのマッピング |
| オージェ電子分光 | ナノ領域表面の元素分析、組成の可視化 ナノスポットの元素分析、組成分析 ※経済産業省 先端技術実証・評価設備整備等補助金を利用して整備 |
| 機器名称 | 用途 |
|---|---|
| XRD（X線回折） | 固体として原子・分子の並び方を調べる 金属、プラスチック、ゴム、機能性材料、薄膜材料 |
| 小角散乱 | 固体の中の数十ナノオーダーの構造配列 プラスチックの混合具合、合金の混ざり方、細孔の分布 |
| マイクロフォーカスX線CT | 3次元の透過像により内部構造を観察する 複合材料の接合部の観察、材料内部の亀裂などの観察 ※経済産業省 先端技術実証・評価設備整備等補助金を利用して整備 |
| 機器名称 | 用途 |
|---|---|
| NMR（核磁気共鳴装置） | 物質の分子式を決定する 新規医薬品・化学物質の開発、構造解析 |
| MALDI-TOFMS（マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析） | 高分子化合物（プラスチック）の分子構造・分子量を調べる タンパク質などの生体高分子の構造解析や微生物の同定 |
| LC-MS（液体クロマト質量分析） | 液体試料の分子構造を調べる 添加剤、農薬、医薬品、糖などの構造解析及び物質同定 |
| GC-MS（ガスクロマト質量分析） | 気体試料の分子構造を調べる 香気成分、揮発性有機化合物などのガス体の構造解析及び物質同定 |
| 機器名称 | 用途 |
|---|---|
| ICP（プラズマ発光） | 液体試料のppbレベルの元素を調べる |
| 蛍光X線分析装置 | ミリ領域の元素を調べる ※経済産業省 先端技術実証・評価設備整備等補助金を利用して整備 |
| EPMA（電子プローブマイクロアナライザー） | 固体試料のサブミクロン領域の元素を調べる ※経済産業省 先端技術実証・評価設備整備等補助金を利用して整備 |
| 機器名称 | 用途 |
|---|---|
| 電磁環境試験 | ＜電磁環境性能の評価＞ 電子機器等から発生する電磁ノイズの測定電波暗室試験機器 ※経済産業省 先端技術実証・評価設備整備等補助金を利用して整備 |
