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「小角X線散乱による評価技術開発研究会」講演集の掲載について

2020年08月06日

「小角X線散乱による評価技術開発研究会」とは

2017年度及び2018年度に、当センターの属する科学技術交流財団が主催する研究会として、「小角X線散乱による評価技術開発研究会」(以下、「本研究会」)が開催されました。

※小角X線散乱とは、合成高分子材料や生体関連材料など多種多様の物質・材料について、ナノメートルサイズの構造情報を調べることができる手法です。当センターにおいても、小角広角ビームラインとして、BL8S3で運用しております。

本研究会は、BL8S3を利用している、あるいはこれから利用を検討している企業や大学、及び研究機関の方々に向けて、BL8S3における測定データやその解析指導を紹介することを主目的として計画されたものです。

2年間に渡り定期的に開催され、東海地域を中心として全国からお越しいただいた方々と知識や意見を交換し、新しい測定技術等の取り込みを目指して活動してまいりました。

 

当ホームページへの講演集の掲載について

本研究会の内容を共有し、抽出される様々な技術を統合・消化することで、BL8S3をより一層周知すると同時に、更なる高度化を目指したいと考えております。

そのため、本研究会で行われた講演の数々を、当ホームページ上にて公開することで、更に多くの方々にご覧いただくことといたしました。

BL8S3を既にご利用いただいている方々だけでなく、検討されている方や興味をお持ちの方も、下記リンク先から是非ご覧ください。


  • 「知の拠点あいち
  • あいち産業科学技術総合センター
  • 名古屋大学シンクロトロン光研究センター
  • 施設間横断検索

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