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あいちシンクロトロン光センターにおける測定代行の実施について

2014年01月09日

 

あいちシンクロトロン光センターにおける測定代行の実施について

 

 あいちシンクロトロン光センター(以下、センターという。)では、平成26年2月から、利用者の利便性の向上を図る

ため、硬X線XAFS(透過法)、粉末X線回折、軟X線XAFSの測定代行を実施いたします。

 測定代行の実施にあたり、次のとおり利用募集を行いますので、積極的なご利用をお待ちしております。

 なお、測定代行の内容や利用手続き等でご不明な点ございましたら、お気軽にセンターにお問い合わせください。

 

1 測定代行の概要

 測定代行は、利用者から預かった試料をセンターのスタッフが代行して測定するサービスです。試料をセンターに

送付あるいは持参することで測定代行を利用できます。

 本サービスは、遠隔地の利用者、専門の研究スタッフが不足している利用者、繰り返し測定などを効率的に実施

したい利用者などの利便性を図るべく実施するものです。

 

2 利用募集する測定手法

測定手法【ビームライン】
硬X線XAFS(透過法)【BL5S1】、【BL5S2】
粉末X線回折(イメージングプレート)【BL5S2】
軟X線XAFS(Heガス雰囲気大気圧測定)【BL6N1】

 ※  測定手法[ビームライン]の詳細はこちらをご覧ください。

 http://www.astf-kha.jp/synchrotron/userguide/gaiyou/

 

3 測定試料と測定環境等

(1)  測定試料について

  測定試料は、原則、次のとおり測定手法ごとに調製した試料に限ります。

測定手法 測定試料
硬X線XAFS(透過法) 最適濃度に調整したペレット状サンプル
粉末X線回折 Φ=0.5mm以下のキャピラリーサンプル(封切済)

軟X線XAFS

(Heガス雰囲気大気圧測定)

粉末又は短冊状サンプル

(2)  測定試料の調製について

  測定試料の調製は利用者が行うものとします。調製方法が判らない場合は、「測定代行相談フォーム」の試料

調製方法の相談欄を要相談としてください。

(3)  測定環境について

 ・硬X線XAFS(透過法)、軟X線XAFS(Heガス雰囲気大気圧測定)は、大気圧室温環境下での測定のみを対象

とします。

 ・粉末X線回折は、大気圧室温環境下での測定とします。

 

4 測定代行の利用区分と利用料等

(1)  利用区分について

利用区分 内容
一般利用

  一般企業の利用を対象としており、利用者の所属、氏名、実験名、成果等、利用に係る一切の

 情報を非公開とすることができます。

中小企業利用

  中小企業の利用を対象としており、一般利用と同様に、利用者の所属、氏名、実験名、成果等、

 利用に係る一切の情報を非公開とすることができます。

  なお、中小企業とは、中小企業基本法に定める中小企業者又は法人格を有する中小企業者の

 団体をいいます。ただし、大企業又はその役員から2分の1以上の出資を受けている企業は除き

 ます。

  中小企業基本法に定める中小企業者の定義の詳細はこちらをご覧ください。

  http://www.chusho.meti.go.jp/soshiki/teigi.html

公共等利用

  大学、公設試験研究所等の利用を対象としており、成果公開を前提とし、成果報告書の提出が

 必要となります。なお、大学、公設試験研究所等の方の利用であっても、成果報告書を提出しない

 場合は、「一般利用」の扱いとなります。

(2)  利用料について

利用区分 利用対象 1時間あたりの利用料(税込)
一般利用 一般企業 61,700円
中小企業利用 中小企業 41,100円
公共等利用 大学・公設試等 41,100円

 (追記)平成26年4月の消費税率8%引き上げに伴い、利用料を変更致しました(2014.4.1)

 ※センターの設立にご賛同いただいた企業・団体及びセンターの運営に支援をいただいている大学は、利用料を

減額します。詳細は、センターにお問い合わせください。

(3)  利用時間単位について

  利用時間単位は1時間とし、利用時間数は、測定手法や試料数等をもとにセンターにて1時間単位で算出します。

 

5 利用募集の概要

(1)利用開始日
 平成26年2月3日(月)から                   

(2)利用申込受付
 平成26年1月9日(木)午前9時から随時受け付けます。

 

6 利用申込手続き 

(1)利用相談

  測定代行の利用を希望する方は、利用申込の前に「測定代行相談フォーム(様式A)」に必要事項を記入の上、

測定代行窓口に提出してください。

  同フォームをもとに、適宜利用希望者と相談の上、測定手法・利用時間等を記載した「実施内容確認書(様式B)」

をセンターで作成後、利用希望者に送付します。

  なお、同フォーム以外に電話等による利用相談も随時受け付けておりますので、8の「お問い合わせ先」にご相談

ください。

(2)利用申込書の提出

  実施内容確認書を受け取った利用希望者は、内容を確認の上、「利用申込書(測定代行)(様式第1号の2)」と

誓約書(測定代行)(様式第4号の2)」に必要事項を記入し、測定代行窓口へ提出してください。

(「利用申込書・誓約書」はこちら

  試料の安全性を審査した後、センターから利用者に「利用承認書(測定代行)(様式第2号の2)」を送付します。

(3)測定試料の提供

  利用の承諾を受けた利用者は、測定試料を測定代行窓口に送付又は持参してください。

  なお、粉末X線回折を利用の場合は、専用のアタッシュケースが必要となるため、事前にセンターから送付します。

  測定試料とアタッシュケースの送料は利用者負担となりますのでご注意ください。

(4)測定データ等の送付

  試料の測定を実施した後、センターから利用者に「測定データ」と測定結果等を記載した「実施報告書(様式C)」を

電子媒体に収納し、預かった測定試料とともに期日までに発送します。

  なお、測定データ等の発送日は、測定内容や利用状況により変動がありますが、利用申込から最短2週間後を

目途とします。

(5)利用料の支払い

  測定データ等の発送と併せて、センターから請求書を送付しますので期日までに利用料をお支払ください。

(6)提出方法
  E-mail、FAX、郵送又は持参による。

(7)測定代行窓口

E-mail aichisr-daiko@astf.or.jp
FAX 0561-21-1652
郵送、持参

〒489-0965

愛知県瀬戸市南山口町250番3 「知の拠点あいち」内

あいちシンクロトロン光センター 「測定代行」あて

 ※  利用手続きの流れについては「測定代行の利用手続きについて」をご覧ください。

  

7 特記事項

(1)成果の公開のお願い

  「一般利用」及び「中小企業利用」の場合は、成果の公開は必ずしも必要としませんが、利用者の方々のご了解

を前提として、成果の公開をお願いする場合があります。

  公開する成果は、事例集等に掲載し、新規利用者の拡大のために活用させていただきます。公開時期、公開

する範囲等については、利用者の方々とご相談の上、決定させていただきます。

(2)成果報告書の提出

  「公共等利用」の区分でご利用いただく場合、測定結果の発送日から50日以内に成果報告書(様式第7号)

6(7)まで提出していただく必要があります。

  成果報告書とは、利用で得られた成果の概要を、図表等を用いてレポート(A4用紙2枚程度)として取りまとめた

もので、活用事例として公開させていただきます。

  ただし、特許取得を意図しているなどの理由により公開の延期を希望する場合、当センターとの協議により、公開

の範囲、公開の時期等を別に定めることができます。公開の猶予は最大2年間となります。

(3)成果発表の報告のお願い

  論文、受賞、プレスリリース、講演、寄稿などにより発表する場合は、当センターにおける活用又は成果であることの

明記をお願いするとともに、別刷り、記事の写し、プレス発表資料等を6(7)まで随時送付していただきますようお願い

します。

(4)公開特許の報告のお願い

  本サービスの利用に伴い発生した知的財産は、原則として利用者に帰属します。特許を出願し、公開特許公報に

より特許が公開された場合、公開特許公報の写しを6(7)まで随時送付していただきますようお願いします。

 

8 お問い合わせ先

住所

〒489-0965

愛知県瀬戸市南山口町250番3 「知の拠点あいち」内

担当

あいちシンクトロン光センター

ビームライン課 産業利用コーディネータ

TEL 0561-76-8330
E-mail aichisr@astf.or.jp

 


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