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あいちシンクロトロン光センターにおける測定代行の実施について 2015

2015年07月01日

 

あいちシンクロトロン光センターにおける測定代行の実施について

 

あいちシンクロトロン光センター(以下、センター)では、2014年2月から、測定代行を実施しております。この度、新たに測定代行を受け付けるビームラインを追加しましたのでご案内します。

 

測定代行の概要

測定代行は、利用者から預かった試料をセンターのスタッフが代行して測定するサービスです。試料をセンターに送付あるいは持参することで測定代行を利用できます。

本サービスは、遠隔地の利用者、専門の研究スタッフが不足している利用者、繰り返し測定などを効率的に実施したい利用者、利用相談の上測定を委託したい利用者などの利便性を図るべく実施するものです。

 

利用募集する測定手法

測定手法【ビームライン】
硬X線XAFS(透過法) 【BL5S1】,【BL5S2】
粉末X線回折(キャピラリー) 【BL5S2】
軟X線XAFS(Heガス雰囲気大気圧測定) 【BL6N1】
軟X線XAFS(超高真空下) 【BL7U】,【BL1N2】 New!
薄膜X線回折測定(薄膜,シート状,板状) 【BL8S1】 New!
小角散乱測定 【BL8S3】 New!

 ※  測定手法[ビームライン]の詳細はこちらをご覧ください。

 

測定試料と測定環境等

測定試料について

原則、次のとおり測定手法ごとに調製した試料としておりますが、まずはご相談ください。

測定手法 測定試料
硬X線XAFS 最適濃度に調整したペレット状サンプル
粉末X線回折 Φ=0.5mm以下のキャピラリーサンプル(封切済)
軟X線XAFS (6N1) (大気圧・真空下)
粉末又は短冊状サンプル (相談必須)
軟X線XAFS (1N2,7U) (超高真空下)
粉末・板状 (相談必須)
薄膜X線回折 (8S1) シート状,板状,基板 (要相談)
小角散乱 (8S3)  粉末状,シート状 (要相談)

 

測定試料の調製について

測定試料の調製は利用者がおこなうものとします。調製方法が判らない場合は、「測定代行相談フォーム」の試料調製方法の相談欄を 要相談 としてください。

測定環境について

  • 硬X線XAFS(透過法)、軟X線XAFS(Heガス雰囲気大気圧測定)は、大気圧室温環境下での測定
  • 粉末X線回折は、大気圧室温環境下での測定
  • 軟X線超高真空下XAFSは、室温環境下での測定

  • 薄膜X線回折小角散乱は、大気中室温環境下での測定

 

測定代行の利用区分と利用料等

 利用区分について

利用区分 内容
一般利用
一般企業の利用を対象
利用者の所属、氏名、実験名、成果等、利用に係る一切の情報を非公開
中小企業利用
中小企業の利用を対象
利用者の所属、氏名、実験名、成果等、利用に係る一切の情報を非公開

中小企業とは、中小企業基本法に定める中小企業者又は法人格を有する中小企業者の団体
ただし、大企業又はその役員から2分の1以上の出資を受けている企業は除く
中小企業基本法に定める中小企業者の定義の詳細はこちら
公共等利用
大学、公設試験研究所等の利用を対象
成果公開を前提とし、成果報告書(様式7)の提出が必要
成果報告書を提出しない(成果を非公開にしたい)場合は、「一般利用」での利用が可能

 

利用料について

利用区分 1時間あたりの利用料(税込)
一般利用 61,700円
中小企業利用 41,100円
公共等利用 41,100円

 (追記)平成26年4月の消費税率8%引き上げに伴い、利用料を変更致しました(2014.4.1)

※センターの設立にご賛同いただいた企業・団体及びセンターの運営に支援をいただいている大学は、利用料を減額します(賛同企業・団体については2016年3月まで)。詳細は、センターにお問い合わせください。


利用時間単位について

利用時間は1 時間 単位です。

 

利用申込手続き 

事前相談

利用申込の前に「測定代行相談フォーム(様式A)」に必要事項を記入の上、測定代行窓口に提出してください。同フォームをもとに、実施内容、測定手法、利用時間等について適宜利用相談をおこないます。測定内容によっては、来所頂いて打合せを実施します。
実施内容が決まりましたら、「実施内容確認書(様式B)をセンターで作成し、利用者に送付致します。
書式のダウンロードはこちら

ご希望時に測定代行を実施するビームタイムが既に無い状況も発生しています(特に硬X線XAFS)。まずは、受け入れ可能かお問い合わせください。

利用申込書の提出

「実施内容確認書(様式B)」の内容を確認の上、「利用申込書(測定代行)(様式第1号の2)」と誓約書(測定代行)(様式第4号の2)」に必要事項を記入し、測定代行窓口へ提出してください。
書式のダウンロードはこちら

試料の安全審査終了後、センターから利用者に「利用承認書(測定代行)(様式第2号の2)」を送付します。


測定試料の提供

利用の承諾を受けた利用者は、測定試料を測定代行窓口に送付又は持参してください。なお、粉末X線回折を利用の場合は、専用のアタッシュケースをセンターから送付します。測定試料とアタッシュケースの送料は利用者負担となります。

 

測定データ等の送付

試料の測定を実施した後、センターから利用者に「測定データ」と測定結果等を記載した「実施報告書(様式C)」を電子媒体に収納し、預かった測定試料とともに発送します。なお、測定データ等の発送日は、測定内容や利用状況により変動がありますが、利用申込から最短2週間後を目途とします。

 

利用料の支払い

測定データ等の発送と併せて、センターから請求書を送付しますので期日までに利用料をお支払ください。

 

提出方法

E-mail、FAX、郵送又は持参

 

測定代行窓口

E-mail aichisr-daiko@astf.or.jp
FAX 0561-21-1652
郵送、持参

〒489-0965

愛知県瀬戸市南山口町250番3 「知の拠点あいち」内

あいちシンクロトロン光センター 「測定代行」 宛

 ※  利用手続きの流れについては「測定代行の利用手続きについて(PDF)」をご覧ください。

  

特記事項

成果の公開のお願い

「一般利用」及び「中小企業利用」の場合は、成果の公開は必ずしも必要としませんが、利用者の方々のご了解を前提として、成果の公開をお願いする場合があります。公開する成果は、事例集等に掲載し、新規利用者の拡大のために活用させていただきます。公開時期、公開する範囲等については、利用者の方々とご相談の上、決定させていただきます。


成果報告書の提出

「公共等利用」の区分でご利用いただく場合、測定結果の発送日から50日以内に成果報告書(様式第7号)を提出していただく必要があります。成果報告書とは、利用で得られた成果の概要を、図表等を用いてレポート(A4用紙2枚程度)として取りまとめたもので、活用事例として公開させていただきます。ただし、特許取得を意図しているなどの理由により公開の延期を希望する場合、当センターとの協議により、公開の範囲、公開の時期等を別に定めることができます。公開の猶予は最大2年間となります。成果報告書の提出に合わせて、成果公開延期申請書を提出してください。
書類のダウンロードはこちら
 

成果発表の報告のお願い

論文、受賞、プレスリリース、講演、寄稿などにより発表する場合は、当センターにおける活用又は成果であることの明記をお願いするとともに、別刷り、記事の写し、プレス発表資料等を随時送付していただきますようお願いします。

公開特許の報告のお願い

本サービスの利用に伴い発生した知的財産は、原則として利用者に帰属します。特許を出願し、公開特許公報により特許が公開された場合、公開特許公報の写しを随時送付していただきますようお願いします。

 

各種問い合わせ先

住所

〒489-0965

愛知県瀬戸市南山口町250番3 「知の拠点あいち」内

担当

あいちシンクトロン光センター

ビームライン課 産業利用コーディネータ

TEL 0561-76-8330
E-mail aichisr@astf.or.jp

 


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