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第4回 あいちSR成果発表会(2016年3月9日)

 文部科学省の補助事業「研究開発施設共用等促進費補助金(先端研究基盤共用・プラットフォーム形成事業)」の支援の下、実施した発表会です。 

(1)<午前の部>
① 摩擦攪拌接合による異材接合体接合界面の放射光分析                     豊橋技術科学大学 安井 利明

② アトム窒化処理を施した鋼表面の状態分析                                豊田工業大学 原 民夫
 
③ BL5S2粉末回折ビームラインにおける平面型二次元検出器の4連装化        名古屋工業大学 井田 隆

④ 単結晶X線回折ビームラインの学術および産業利用                   名古屋大学 渡邉 信久


(2)<口頭発表>
                                          神杉酒造(株)/あいち産業科学技術総合センター

② 軟X線光電子分光によるSi基板上窒化物半導体と絶縁体との界面における電子状態解析
                                                      名古屋工業大学/(株)デンソー
 
銀ナノ粒子担持抗菌繊維における銀化学状態の解析                                     大阪大学/(株)アクト・ノンパレル



                            (株)中村建築研究所/名古屋大学/あいち産業科学技術総合センター

 


    
(3)<ポスター発表>
P1 リチウム電池スピネル型正極材料の電子構造・結晶構造解析                                    (株)デンソー

P2 東京国立博物館本館に使われた鉄釉窯変調瓦の製造技術の解明             かわら美術館の瓦談話会
 
P3 パーライト(真珠岩発泡体)/ゼオライト/TiO2複合体中のTiの局所構造解析   
                                             三井金属鉱業(株), 大阪府立大学, 東北大学

P4 放射光を利用したリチウム空気二次電池の電極/電解液界面構造の解析                  (株)日産アーク

P5 愛知県産酒造好適米「夢吟香」の米粒によるデンプン構造解析  神杉酒造(株), あいち産業科学技術総合センター

  水溶液のミセル構造解析と化粧品製剤の安定性評価                      日本メナード化粧品(株)
  
                                                             東京工業大学, 日本電信電話(株) 
      
  ~Al2O3/AlGaN 界面の評価~                                                            名古屋工業大学

   ~HfO2/AlGaN 界面の評価~                                        名古屋工業大学

P10 銀ナノ粒子担持抗菌繊維における銀化学状態の解析                             大阪大学, (株)アクト・ノンパレル 
    
                                        大阪大学(株)日立製作所名古屋大学あいちSR

P12 塩化揮発法による焼却主灰に含まれるアルカリ金属の除去と XAFSによる構造解析   中部大学, 清水建設(株)                                                                                          
                              (株)中村建築研究所, 名古屋大学, あいち産業科学技術総合センター

                                                                                      (株)ジェースタイル, あいち産業科学技術総合センター
 
                                               (株)オハラ, 理化学研究所, 産業技術総合研究所, (株)コベルコ科研
 
P16 中性子計測のためのAPLFガラスの光学計測評価                     浜松ホトニクス(株), 大阪大学
 
 
                                             (株)大林組, 静岡大学, 有人宇宙システム(株)
 
 
                                                          日本メナード化粧品(株)
 
P21 XAFS測定による錫メッキ上酸化被膜の化学状態分析                         古河電気工業(株)

 


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