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2015年度 シンクロトロン光利用者研究会【第4回 XAFSグループ】

研究会 開催日:2016年02月24日

第 4 回 XAFS グループ 利用者研究会

2016年 2月24日,3月3,11日の3日間にわたり,XAFS グループの2015年度第 4 回 SR利用者研究会を開催いたします。
先回(第3回)と同様に、軟X線ビームラインBL1N2において,XANESスペクトル測定の実地研修を行います。

概要

場所: 知の拠点あいち あいちシンクロトロン光センター BL1N2

対象: あいちシンクロトロン光センターにおける 軟X線XAFSに関心のある方

定員: 3グループ程度

参加費: 無料

主催 : 大学連合(名古屋大学,名古屋工業大学,豊橋技術科学大学,豊田工業大学)
     愛知県
     公益財団法人科学技術交流財団

協賛 :光ビームプラットフォーム 

実施日

 2016年 2月24日(水) 10:00-18:00 第1グループ

 2016年 3月 3日(木) 10:00-18:00 第2グループ

 2016年 3月11日(金) 10:00-18:00 第3グループ

諸注意

  • 公共等利用の枠で実施しますので、成果報告書の提出が必要です。
  • 全電子収量法あるいは蛍光収量法によるXANESスペクトル測定です。
  • 対象元素は、K吸収端でNa・Mg・Al・Siです。
  • ご希望の方は、WEB申込みよりエントリーをお願いします。
  • 内容を確認後、参加者を決定します。
  • 参加には放射線従事者登録が必要です。
  • 参加者決定後、面談あるいは電子メールでの打合せをおこないます。

申込み方法

締め切りました。

お問い合わせ先

あいちSR SR利用者研究会 砥綿 mail

 


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