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2017年度シンクロトロン光利用者研究会【入門講習会】

講習会 開催日:2017年08月21日

シンクロトロン光計測入門講習会

知の拠点あいち内に設置している「あいちシンクロトロン光センター(以下AichiSR)」は、分子や原子レベルで物質の組成等を解析できるナノテク研究に不可欠な最先端の計測分析施設であり、県内外の様々な産業分野における企業、大学及び公的試験研究機関の方々にご利用いただいております。現在、AichiSRでは測定手法別に10本のビームラインを供用しております。
今回はその数ある測定手法の中でも利用率の高い測定手法であるX線吸収微細構造(以下XAFS)の講習会を開催いたします。XAFSの測定を行ったことのない方や経験の浅い方、解析でお悩みの方を主な対象にXAFSについて原理から解析までをわかりやすくご紹介します。

概要

日時  2017年 8月 21日(月) 13:00 ~ 17:30  (受付開始 :12:30より)

会場  あいち産業科学技術総合センター 1階 講習会室  アクセス

参加費  無料

定員  80名(先着順)

主催  愛知県 (公財)科学技術交流財団
     大学連合(名古屋大学・名古屋工業大学・豊橋技術科学大学・豊田工業大学)

共催  愛知工研協会 

協賛  光ビームプラットフォーム

プログラム

時間
内容
12:30 ~13:00
受付
13:00 ~13:05 開会挨拶
13:05 ~13:15
(10分)
【AichiSRビームライン紹介】
・AichiSRビームラインを紹介します。
 講師:あいち産業科学技術総合センター 共同研究支援部 野本 豊和
13:15 ~14:25
(70分)
【XAFS測定入門】
・XAFSの原理から実際何が分かるのかまでを優しく説明します。
 講師:名古屋大学 教授 田渕 雅夫
14:25 ~14:40 休憩
14:40 ~15:40
(60分)
【XANES解析入門】
・AthenaによるXAFSデータの解析方法を説明します。
 講師:名古屋大学 技術職員 陰地 宏
15:40 ~16:40
(60分)
【EXAFS解析の実用例、研究事例】
・ArtemisによるEXAFS解析を研究で用いた例を紹介します。
 講師:名古屋大学 助教 小川 智史
16:40 ~17:30  個別相談会(※希望者のみ)

  

申込み方法

受付終了しました。ありがとうございました。

 
●個人情報の取り扱いについて
記載頂いた個人情報は、利用者研究会参加申込に係る手続きに利用するほか、あいちシンクロトロン光センターの利用促進のために実施する各種事業の情報提供に使用します。
 

問い合わせ・申込書による申込み先

あいち産業科学技術総合センター 共同研究支援部
シンクロトロン光活用推進室 中西、野本、柴田、中川
〒470-0356 豊田市八草町秋合1267-1
電話:0561-76-8315 FAX:0561-76-8317   メール 

 


あいちシンクロトロン光センター
シンクロトロン光利用者研究会  砥綿  メール

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