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日本分析化学会X線分析研究懇談会第266回例会

講演会 開催日:2019年01月22日

X線分析研究懇談会第266回例会を開催いたします。今回は,放射光X線を用いた研究の講演に加え,「あいち産業科学技術総合センター」の計測・分析設備および「あいちシンクロトロン光センター」の見学も行います。

懇談会会員・非会員を問わず、多くの方のご参加をお待ちしております。

 

主催:日本分析化学会 X線分析研究懇談会
協賛:あいちシンクロトロン光センター シンクロトロン光利用者研究会 

概要

日時  2019 年 1 月 22 日(火)13:00 ~ 16:00

 

場所  あいち産業科学技術総合センター 1F 講習会室A

 

プログラム

  • 講演1 <13:00 ~ 13:30> 福岡 修 (あいち産業科学技術総合センター)

 「X線トポグラフィ技術を用いた単結晶基板の広範囲欠陥観察 (あいちSR – BL8S2)」

 

  • 講演2 <13:30 ~ 14:00> 井田 隆 (名古屋工業大学 先進セラミックス研究センター)

 「通常光源とシンクロトン光源を用いた粉末X線回折」

 

  • 講演3 <14:00 ~ 14:30> 吉田 朋子 (大阪市立大学 複合先端研究機構)

 「機能性材料キャラクタリゼーションへのXAFS応用(あいちSRでの測定結果を中心に)」

 

  • 講演4 <14:30 ~ 15:00> 飯原 順次 (住友電気工業(株) 解析技術研究センター)

 「住友電工の放射光利用の現状」

 

  -休憩-<15:00 ~ 15:15>
 
 
  • 見学会 <15:15 ~ 16:00>

 あいち産業科学技術総合センター・計測分析室/あいちシンクトロトン光センター

 

参加費   無料

 

参加申込み方法

2019年1月18日(金) までに メール にてご連絡をお願いします。
メールの件名は,「266回例会」としてください。

あいちシンクロトロン光センター 上原 康 

 


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