BL11S2 硬X線XAFS Ⅱ

 ビームライン概要

硬X線領域の X 線吸収微細構造 (XAFS) 測定を行い、材料中の原子の結合状態や局所構造を解析する。 硬X線 XAFS 測定の高い需要に応えて、 BL5S1 と同等のスペックを満たしつつ、 更なる高エネルギー側での利用をサポートすることを目的する。 エネルギー範囲としては、 K 吸収端でチタン (Ti) ～ カドミウム (Cd)、L 吸収端でセシウム (Cs) ～アクチノイドを対象とする。 BL5S1 と同様に透過法、 7素子シリコンドリフト検出器による蛍光法、 転換電子収量法による測定が可能であり、 水素・酸素供給排気設備と、 in-situ XAFSフローセルを使用した時分割測定も可能である。

光エネルギー	5～26 keV (0.25～0.05 nm)
ビームサイズ	0.40 mm×0.30 mm (幅×高さ：通常集光時)
分解能(E/ΔE)	7000　@12keV　（※ Si (111) 計算値）
光学系
光子数
測定可能元素	※黄色 : K吸収端 緑色 : L吸収端

典型的な測定例 (V，Cu foil K-edge XAFS) ※図をクリックすると拡大します

 測定事例　※図をクリックすると拡大します　　

現在の整備状況

XAFS 測定環境

• Step Scan XAFS
• Quick XAFS (透過法、蛍光法、転換電子収量法)
• マイクロ XAFS (キャピラリー集光： 20 μm） (事前相談をお願いします)
• マッピング XAFS (透過、蛍光)  (事前相談をお願いします)
• クライオスタット (RT ～ 11K)  (事前相談をお願いします)

検出器 

• 透過測定用イオンチャンバ (3 台) 
• 蛍光測定用7素子シリコンドリフト検出器 SDD (テクノエーピー）
• 転換電子収量法用検出器

標準試料

BL11S2 では以下の金属箔を標準試料として準備しております。

試料環境

汎用 XZ ステージ（9連試料交換器付き）

In situ XAFS フローセル

参考資料

• 硬X線XAFSビームライン(BL5S1)用 測定簡易マニュアル　こちら(PDF)
• XAFS 解析ソフト Athena マニュアルの日本語訳 のページ
• Athena による測定データの読み込み　こちら