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硬X線領域の X 線吸収微細構造 (XAFS) 測定を行い、材料中の原子の結合状態や局所構造を解析する。 硬X線 XAFS 測定の高い需要に応えて、 BL5S1 と同等のスペックを満たしつつ、 更なる高エネルギー側での利用をサポートすることを目的する。 エネルギー範囲としては、 K 吸収端でチタン (Ti) ～ カドミウム (Cd)、L 吸収端でセシウム (Cs) ～アクチノイドを対象とする。 BL5S1 と同様に透過法、 7素子シリコンドリフト検出器による蛍光法、 転換電子収量法による測定が可能であり、 水素・酸素供給排気設備と、 in-situ XAFSフローセルを使用した時分割測定も可能である。
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光エネルギー |
5～26 keV (0.25～0.05 nm)
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| ビームサイズ | 0.40 mm×0.30 mm (幅×高さ：通常集光時) |
| 分解能(E/ΔE) | 7000 @12keV （※ Si (111) 計算値） |
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光学系 |
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光子数 |
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測定可能元素
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※黄色 : K吸収端
緑色 : L吸収端
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BL11S2 では以下の金属箔を標準試料として準備しております。
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【K-edge】
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【L-edge】 | |
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Ti foil
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Mo foil
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Ta foil |
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V foil
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W foil |
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Cr foil
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Rh foil
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Pt foil |
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Mn foil
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Pd foil | Au foil |
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Fe foil
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Ag foil | |
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Co foil
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Cu foil
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Zn foil
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Zr foil
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| 昇温限界温度(℃) | 昇温速度(℃/min) | |
| 金属セル | 650 | ～ 10 |
| 透過用石英セル | 1000 | ～ 30 |
| ガス種 | 使用可能流量 (ml/min) | 使用可能濃度 (%) |
| H2 | 4 ～ 100 | ～ 100 |
| O2 | 4 ～ 200 | ～ 20 |
| N2 | 10 ～ 500 | ～ 100 |
| He | 10 ～ 500 | ～ 100 |
※低流量 (10 ml以下)での利用は安定性の問題からおすすめしておりません。
（更新2018.4.25）
