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BL11S2 硬X線XAFS Ⅱ

 ビームライン概要

硬X線領域の X 線吸収微細構造 (XAFS) 測定を行い、材料中の原子の結合状態や局所構造を解析する。 硬X線 XAFS 測定の高い需要に応えて、 BL5S1 と同等のスペックを満たしつつ、 更なる高エネルギー側での利用をサポートすることを目的する。 エネルギー範囲としては、 K 吸収端でチタン (Ti) ~ カドミウム (Cd)、L 吸収端でセシウム (Cs) ~アクチノイドを対象とする。 BL5S1 と同様に透過法、 7素子シリコンドリフト検出器による蛍光法、 転換電子収量法による測定が可能であり、 水素・酸素供給排気設備と、 in-situ XAFSフローセルを使用した時分割測定も可能である。

 

  

光エネルギー

5~26 keV (0.25~0.05 nm)
ビームサイズ 0.40 mm×0.30 mm (幅×高さ:通常集光時)
分解能(E/ΔE) 7000 @12keV (※ Si (111) 計算値)

 

光学系

 

 

 

光子数

 

 

 

測定可能元素

 

 

※黄色 : K吸収端 緑色 : L吸収端

典型的な測定例 (V,Cu foil K-edge XAFS) ※図をクリックすると拡大します

  


 

    

 測定事例 ※図をクリックすると拡大します  



 

現在の整備状況

XAFS 測定環境

  • Step Scan XAFS
  • Quick XAFS (透過法、蛍光法、転換電子収量法)
  • マイクロ XAFS (キャピラリー集光: 20 μm) (事前相談をお願いします)
  • マッピング XAFS (透過、蛍光)  (事前相談をお願いします)
  • クライオスタット (RT ~ 11K)  (事前相談をお願いします)

検出器 

  • 透過測定用イオンチャンバ (3 台) 
  • 蛍光測定用7素子シリコンドリフト検出器 SDD (テクノエーピー)
  • 転換電子収量法用検出器

標準試料

BL11S2 では以下の金属箔を標準試料として準備しております。

【K-edge】
  【L-edge】
Ti foil
Mo foil 
 Ta foil
V foil
 
 W foil
Cr foil
Rh foil 
 Pt foil
Mn foil
Pd foil  Au foil
Fe foil
Ag foil  
Co foil
   
     
Cu foil
   
Zn foil
   
Zr foil
   
  

試料環境

汎用 XZ ステージ(9連試料交換器付き)

 

In situ XAFS フローセル

加熱用 XAFS セル 加熱用 XAFS セル(石英製)

  昇温限界温度(℃) 昇温速度(℃/min)
金属セル 650 ~ 10
透過用石英セル 1000 ~ 30
 
 
 
 
ガス種 使用可能流量 (ml/min) 使用可能濃度 (%)
H2 4 ~ 100  ~ 100
O2 4 ~ 200 ~ 20
N2 10 ~ 500 ~ 100
He 10 ~ 500 ~ 100

参考資料

  • 硬X線XAFSビームライン(BL5S1)用 測定簡易マニュアル こちら(PDF)
  • XAFS 解析ソフト Athena マニュアルの日本語訳 のページ
  • Athena による測定データの読み込み こちら

ソフトウェアなど

リンク集 (BL5S1と同じ)

(更新2017.9.4)


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