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BL1N2 軟X線XAFS・光電子分光 Ⅱ

ビームライン概要

軟X線領域の吸収端近傍のX線吸収微細構造分光測定(XAFS)を行い、材料中の原子の結合状態や局所構造を解析するためのビームラインです。K吸収端で O・F・Na・Mg・Al、L吸収端で V・Cr・Mn・Fe・Co・Ni・Cu・Zn・Ga・Ge・As・Se・Brを対象とした測定を行います(2018年1月現在)。
ロードロック及びサンプルバンクを備えており、一度に14枚のサンプルプレートを導入することができます。現在は、真空下のみの測定が可能ですが、将来的には大気圧測定室を備えることを目指しています。
装備している取り外し式のトランスファーベッセルは、あいちシンクロトロン光センター内の軟X線ビームライン3本(BL1N2、BL6N1、BL7U)で共通型であり、3ビームライン間で大気非曝露試料導入・測定が可能です。サンプルプレートも3ビームラインで共通です。

 
光エネルギー
0.5~2.0 keV (2.5~0.6 nm)[回折格子:500L/mm(G1),1000L/mm(G2)]
ビームサイズ 約2.0 ×1.0 mm (幅×高さ)
光子数
 
 

現在の整備状況

  • 検出方法: 全電子収量法・部分蛍光収量法  

  • サンプルバンク: 7 個の試料ホルダを設置し、同時に真空引きが可能

 サンプルバンク


  • サンプルサイズ: 約 8 mm角以下(下図参照)、厚さ1 mm以下

 
 
  • サンプルプレート図面 こちら 
 
  • トランスファーベッセル: 使用方法について 資料 (6N1のページへリンク)

 
トランスファーベッセル

 

外観

  BL1N2全景

 

測定事例

 

 

 

 

 

(更新2018.5.28)


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