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BL1N2 軟X線XAFS・光電子分光 Ⅱ

ビームライン概要

 軟X線領域においてX線吸収微細構造(XAFS)の測定を行い、材料中の原子の化学状態や局所構造を解析するためのビームラインです。K吸収端で C・N・O・F・Na・Mg・Al等の軽元素や軽金属、L吸収端では Ti・V・Cr・Mn・Fe・Co・Ni・Cu等の遷移金属を主な対象として測定を行うことが可能です。
 ロードロックにはサンプルバンクを3セット備えており、合計21枚のサンプルプレートを同時に導入することができます。多くの試料の測定を行うのに適しています。
 大気非曝露測定を行うためのトランスファーベッセルを備えています。トランスファーベッセルとサンプルプレートは、あいちシンクロトロン光センター内の軟X線ビームライン3本(BL1N2、BL6N1、BL7U)で共通型であり、ビームライン間で大気非暴露での試料の受け渡しが可能です。

 
光エネルギー
0.15~2.0 keV (8.3~0.6 nm)
[回折格子: 500 lines/mm(G1),  1000 lines/mm(G2)500 lines/mm(G3)]
ビームサイズ

約 1 × 1 mm (幅×高さ)

光子数  
測定可能元素  
光学系  

現在の整備状況

  • 測定方法


  • サンプルプレート図面 こちら
    約10 × 10 mm、厚み3 mm以下の試料を貼り付け可能。


  • サンプルバンク 3セット: 21 個(7個×3セット)のサンプルプレートを導入し、同時に真空引きが可能


  • トランスファーベッセル(大気非曝露測定用): 使用方法についてTV_BL1N2.pdf


  • エンドステーション

測定事例

Al およびMgのXAFS測定(G1とG2の使い分け)


2018-08-02更新 

 


2018-11-26更新


2018-11-26更新


2018-10-25更新


リチウムイオン電池正極材料の軟X線XAFS測定 PDFはこちら


2019-04-05更新

 

 


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