ユーザーガイド
HOME > ユーザーガイド > ビームライン一覧 > BL1N2 軟X線XAFS・光電子分光 Ⅱ

BL1N2 軟X線XAFS・光電子分光 Ⅱ

ビームライン概要

軟X線領域の吸収端近傍のX線吸収微細構造分光測定(XAFS)を行い、材料中の原子の結合状態や局所構造を解析するためのビームラインです。K吸収端でNa・Mg・Al・Si、 L吸収端でNi・Cu・Zn・Ga・Ge・As・Se・Br M吸収端で La・Ce・Pr・Nd・Pm・Sm・Eu・Gd・Tb・Dy・Ho を対象とした測定を行います(2017年8月現在)。今後、回折格子の切替によって測定可能な軽元素(O・N・Cなど)を増やすことを目指しています。
現在、超高真空下での測定となりますが、ロードロック及びサンプルバンクを備えており、一度に複数のサンプルを導入することができます。将来的にはBe窓を介した大気圧測定室による1気圧He雰囲気下での測定を可能にすることを目指しています。
装備している取り外し式のトランスファーベッセルは、軟X線ビームラインのBL6N1・BL7Uと共通型であるため、3ビームライン間での大気非曝露での試料導入・測定が可能です。
 
光エネルギー 0.8~2.0 keV (1.6~0.6 nm) [回折格子(Grating2):1000L/mm]
ビームサイズ 約2.0 ×1.0 mm (幅×高さ)
光子数
 
 
 

現在の整備状況

  • 検出方法: 全電子収量法・部分蛍光収量法  

  • サンプルバンク: 7 個の試料ホルダを設置し、同時に真空引きが可能

 サンプルバンク


  • サンプルサイズ: 約 8 mm角以下(下図参照)、厚さ1 mm以下

 
 
  • サンプルプレート図面 こちら 
 
  • トランスファーベッセル: 使用方法について 資料 (6N1のページへリンク)

 
トランスファーベッセル

 

外観

  BL1N2全景

 

測定事例

 

 

 

 

 

(更新2017.8.8)


一覧へ戻る