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BL1N2 軟X線XAFS・光電子分光 Ⅱ

ビームライン概要

軟X線領域のX線吸収微細構造分光測定(XAFS)を行い、材料中の原子の結合状態や局所構造を解析するためのビームラインです。K吸収端で B・C・N・O・F・Na・Mg・Al、L吸収端で Cl・K・Ca・Sc・Ti・V・Cr・Mn・Fe・Co・Ni・Cu・Zn・Ga・Ge・As・Se・Brを対象として測定を行います。
ロードロック及びサンプルバンクを3セット備えており、ひとつのサンプルバンクに7個のサンプルプレートを載せられるため、計21枚を導入することができます。
取り外し式のトランスファーベッセルを備えており、あいちシンクロトロン光センター内の軟X線ビームライン3本(BL1N2、BL6N1、BL7U)で共通型で、3ビームライン間で大気非曝露試料導入・測定が可能です。サンプルプレートも3ビームラインで共通です。

 
光エネルギー
0.15~2.0 keV (8.3~0.6 nm)
[回折格子: 500 lines/mm(G3),  500 lines/mm(G1),1000 lines/mm(G2)]
ビームサイズ

約2.0 ×1.0 mm (幅×高さ)

光学系

光子数
 
測定可能元素  

現在の整備状況

  • 検出方法: 全電子収量法・部分蛍光収量法

  • サンプルバンク: 21 個(7個×3セット)のサンプルプレートを導入し、同時に真空引きが可能

  • サンプルサイズ: 約 10 mm角以下(下図参照)、厚さ1 mm以下

  • トランスファーベッセル: 使用方法について 資料 (6N1のページへリンク)

 
トランスファーベッセル

 

エンドステーション

 

 

測定事例

Al およびMgのXAFS測定(G1とG2の使い分け)


2018-08-02更新 

 


2018-11-26更新


2018-11-26更新


2018-10-25更新

 

 


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