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BL8S3 広角・小角X線散乱

ビームライン概要

X線小角散乱法により、分子薄膜や繊維など、主に有機・高分子材料の構造を解析する。数オングストロームから約100ナノメートルまでの範囲の構造の測定が可能。自動読取イメージングプレート検出器(R-AXIS Ⅳ++)と二次元半導体検出器(PILATUS 100K)を備え、高精度静的測定と時分割測定を可能とする。さらにフラットパネル検出器を併設することで小角と高角の同時測定を可能とする。他、サンプルチェンジャーを備え測定の効率化も実現。カメラ長は最大4mとし、試料位置に自由度を持たせることでユーザー持ち込みの大型な試料環境装置にも対応する。

光エネルギー 8.2,13.5 keV (0.15,0.092 nm)
ビームサイズ 約 1.0 ×0.5 mm (幅×高さ)
分解能(E/ΔE) >>2000 @8.2keV
光子数
3.3×1010 Photons/sec @8.2 keV
1.0×1010 Photons/sec @13.5 keV

 

 現在の整備状況

検出器

 

  • フラットパネルディテクタ(要問合せ) 1032×1032 pixel (50μm/pixel)

 レイアウト

 

  ・斜入射小角X線散乱(GISAXS;要問合せ) 写真

  ・小角広角同時測定(要問合せ)

試料環境

  • 6連サンプルチェンジャー 写真
    • サンプルホルダー 5cm×5cm φ3mm (キャピラリーはφ2mm推奨) 写真
  • 冷却加熱ステージ(Linkam -190℃~600℃) 写真
  • 持込試料台にも対応(要問合せ)
  • 溶液セル

ソフトウェア

  • 測定用ソフト;時分割測定,マッピング測定,多連装測定
  • 自動一元化ソフト
  • 解析用ソフト; NANO-Solver 他

測定事例

  • 皮膚角層の測定 (図をクリックするとPDF資料にリンクします)

 

 

  • モーター蛋白質の構造 (図をクリックするとPDF資料にリンクします)


(更新2017.11)

 


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