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BL8S3 広角・小角X線散乱

ビームライン概要

X線小角散乱法により、分子薄膜や繊維など、主に有機・高分子材料の構造を解析する。数オングストロームから約300ナノメートルまでの範囲の構造の測定が可能。自動読取イメージングプレート検出器(R-AXIS Ⅳ++)と二次元半導体検出器(PILATUS 100K)を備え、高精度静的測定と時分割測定を可能とする。さらにフラットパネル検出器を併設することで小角と高角の同時測定を可能とする。他、Be窓X線イメージインテンシファイア付きCCD検出器(V7739P/ION)、サンプルチェンジャーを備える。カメラ長は最大4mとし、試料位置に自由度を持たせることでユーザー持ち込みの大型な試料環境装置にも対応する。

光エネルギー 8.2,13.5 keV (0.15,0.09 nm)
ビームサイズ 約 1 ×0.5 mm (幅×高さ)
分解能(E/ΔE) >>2000 @8.2keV
光子数 7.7×1010 Photons/sec @8.2keV

 

 現在の整備状況

  • 検出器:

 ・R-AXIS Ⅳ++  

  ・PILATUS 100K

  ・フラットパネルディテクタ(要問合せ)

  ・Be窓X線イメージインテンシファイア付きCCD検出器(要問合せ)

  • 波長: 8.2keV(1.5Å), 13.5keV(0.9Å)
  • カメラ長: 0.2 m , 0.45 m , 1.1 m , 2.2 m , 4.0 m 

  ・装置の各レイアウトとデーター集 こちら

  ・カメラ長と波長別qレンジ一覧(RAXIS) こちら  補足;PILATUS含 こちら

  ・広角測定データ(20cm)集 こちら

  • 測定用ソフト(PILATUS);時分割測定,マッピング測定,多連装測定
  • 解析用ソフト; NANO-Solver
  • 6連サンプルチェンジャー

測定事例

  • 皮膚角層の測定 (図をクリックするとPDF資料にリンクします)

 

 

  • モーター蛋白質の構造 (図をクリックするとPDF資料にリンクします)


(更新2017.7)

 


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